：《XT25F128B Flash 测试与编程》
本文介绍了如何使用STC8G单片机对两颗从电子胸牌拆卸下来的型号为XT25F128B的Flash进行测试。测试内容包括设计测试电路、软件编程以及实际电路板的制作。
首先，我们设计了适合一分钟制板的测试电路，并成功制作出测试电路板。虽然线路有些过度腐蚀，但并不影响后续测试。接着，我们焊接了电路板，并使用四芯探针夹子进行程序下载。
XT25F128BFlash测试与编程
在软件编程方面，由于STC8G单片机的SPI端口比较特殊，我们对其进行了特殊的初始化。通过测试SPI时钟端口，我们确认输出信号正常。然后，我们编写了程序来读取器件的128bit唯一编码，并成功显示了读取的128bit编码，这包括设备制造商的ID和设备ID号码。这表明我们的软件读取操作是正确的。
然而，由于时间关系，我们决定将XT25F128B的编程测试留到第二天进行。今天的实验就到这里。
参考资料：[1] XT25F128B Quad I/O Serial NOR Flash Datasheet: https://datasheet.lcsc.com/lcsc/2005251034_XTX-XT25F128BSSIGT_C558844.pdf
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