：《XT25F128B Flash 测试》
这是两颗从电子胸牌拆卸下来的Flash，型号为XT25F128B。我们将使用STC8G单片机对其进行测试，为后续应用打下基础。单片机的封装为SOP8，而Flash的封装也是SOP8。接下来，我们将设计一个测试电路，以便在一分钟内完成电路板的制作。
经过检查，我们发现线路可能存在过度腐蚀的问题，导致线径变细。焊接电路板时，我们发现Flash芯片的管脚较宽，普通的SOP8焊盘几乎无法容纳。我们使用一个四芯探针夹子为电路进行程序下载。
接下来，我们将进行软件编程测试。对于STC8G单片机，在SOP8封装下，对应的SPI端口比较特殊。它的SPI端口只有一个配置，分别位于P5和P3两个端口。因此，我们需要对端口进行特殊的初始化。测试SPI时钟端口后，我们可以看到输出信号正常。
我们通过编程读取了器件的128位唯一编码，并显示了读取的128位编码。这些编码包括设备制造商的ID和设备ID号码。至此，我们可以初步认为软件读取是正确的。
由于时间关系，我们将对XT25F128B的编程测试留到明天进行。今天的实验就到这里。
参考资料：
[1] XT25F128B Quad I/O Serial NOR Flash Datasheet: https://datasheet.lcsc.com/lcsc/2005251034_XTX-XT25F128BSSIGT_C558844.pdf
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